X射線衍射法

該法是利用一定波長的Ⅹ射線照射微量的礦物粉末,并用筒狀感光底片置于特種照相機內,以攝取反射過來的衍射線圖,再根據圖像測算出礦物結構的面網間距d值及其衍射強度Ⅰ值,然后與預算編好的標準數據相比較,來達到鑒定礦物的ⅹ射線衍射法是目前鑒定沸石的最主要手段。一般X射線衍射法對于沸石含量大于10%的粉末全巖樣品可直接鑒定。若樣品中沸石含量不足10%,則需要重液或手選將樣品中的沸石富集后,才能作出鑒定。

紅外吸收光譜法

該法基本原理是:當用一束紅外光照射物質時,該物質的分子就要吸收一部分光能,并將其變為另一種能量,即分子的振動能量和轉動能量。因此,將其透過的光用單色器進行色散,就可以得到一帶暗條的譜帶。如果以波長或波數為橫坐標以百分吸收率或透過率為縱坐標,把譜帶記錄下來,就得到該物質的紅外吸收圖譜。圖譜中的吸收峰對應著分子或分子中各基團的振動形式。因此,根據吸收峰的位置和形狀可推測出測試樣品的結構,依照特征吸收峰的強度可以測定混合物中各組分的含量。

紅外吸收光譜法是沸石鑒定中的一種輔助方法。沸石族礦物的紅外光譜可分為4個特征范圍,即400~800cm-1,800~1400cm-1,140~1800cm-1,2800?3800cm-1在波數400~80cm-1范圍內主要是硅鋁晶格的變形振動和混合振動引起的譜帶。該譜帶對大多數沸石來說都是其所共有的。在該波數范圍內,不同亞族的沸石其吸收帶的形狀和位置都有相當大的差別,就是同一亞族的沸石,即使其外形和吸收帶的主最大值的位置相近,而次最大值的位置和強度也有差異,通過這些差異就可用來鑒別它們。
800~1400cm-1范圍主要是(Al,Si)-O鍵的價振動引起的。在該范圍內,沸石和其他硅酸鹽的紅外光譜均有最強的吸收帶。沸石的主最大值在1000??1100cm-1波數范圍內。
波數1400~1800cm-1范圍是由OH團的變形振動所引起的,大多數沸石都有個強的吸收帶(鈉沸石例外,有兩個明顯的譜帶)。這個吸收帶的最大值都在600~1690cm-1范圍內。
2800~3800cm-1為OH鍵的價振動的強烈吸收帶,不同的沸石有很大的差別下面列出幾種主要沸石礦物的紅外吸收光譜帶的波數(表7-1)及圖譜(圖7-1以供參考。